Prozesssicheres Erkennen kleinster Fehler in 3D mit mikroskopischer Auflösung:
Das Sensorsystem basiert auf einer Weiterentwicklung der patentierten trevista®-Technologie und wurde speziell für die Inlineprüfung von beschichteten Elektroden konzipiert. Noch vor dem Stapel- bzw. Wickelprozess können kleinste Partikel auf den Elektroden schnell und zuverlässig erkannt werden. Gleichzeitig wird ihre Beschichtung auf Unregelmäßigkeiten, wie Beschichtungsfehler, Kratzer und Knicke geprüft.
Perfekte Oberflächeninspektion dank KI-Technologie?
Der Einsatz
modernster KI-Technologien unterstützt die präzise Lokalisierung und
Klassifikation von Defekten; neue Fehlertypen können schnell eingelernt und
zuverlässig erkannt werden.
Dank hervorragender
Qualität der trevista®-Sensordaten
kann eine optimale Auswertung durch das neuronale Netz erfolgen. KI-gestützte Systeme sind sehr flexibel und anpassungsfähig an sich verändernde
Produktionssituationen und somit sehr zukunftssicher.
Im Rahmen der Smart Cell Inspection bieten AIT Goehner und SAC in Kooperation perfekte Bildverarbeitungslösungen für die Batteriezellenproduktion an.
Das gemeinsame Lösungskonzept profitiert besonders von der jahrzehntelangen Erfahrung beider Kooperationspartner im Bereich industrieller Bildverarbeitung.
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